Компания Alchip Technologies изготовила тестовый чип по 2-нм техпроцессу

Тестовый чип оснащен высокоскоростной SRAM и автоматической системой размещения и трассировки для обеспечения оптимальной производительности. Он также включает в себя датчики производительности для получения информации в режиме реального времени.

Тестовый чип позволит определить последовательность проектирования и методологию для новейших транзисторных структур на основе нанолистов. Он также позволит получить данные о мощности, производительности и площади (PPA) для 2-нм техпроцесса.

Компания Alchip рассматривает выпуск тестового 2-нанометрового чипа как важный шаг в поддержании лидерства в области высокопроизводительных ASIC-технологий, поскольку результаты помогут компании подготовиться к будущим достижениям в области 1,6-нанометровых технологий следующего поколения.

«Мы открыты для бизнеса и готовы удовлетворить спрос клиентов на 2-нанометровые чипы. Этот тестовый чип демонстрирует нашу способность расширять границы высокопроизводительных вычислений и проектирования искусственного интеллекта», — сказал Эрез Шайзаф, технический директор Alchip.

Джонни Шен, президент и генеральный директор Alchip, добавил: «Наш тестовый чип с техпроцессом 2 нм представляет собой значительный технологический прорыв и демонстрирует нашу готовность участвовать в разработке самых передовых ASIC. Мы с нетерпением ждём, как этот прорыв повлияет на полупроводниковую промышленность».